О проекте Напишите нам

Микроскопия и спектроскопия объединяют усилия

« к списку статей

27.09.2013 Химический портал himsite.ru

Исследователи из США разработали новую методику получения изображений, которая комбинирует разрешающие способности сканирующей туннельной микроскопии [scanning tunneling microscopy (STM)] с информацией, которую можно получить с помощью инфракрасной спектроскопии.

Новая методика может одновременно визуализировать небольшое количество молекул, находящихся на поверхности и получать их вибрационный спектр.

Обнаружение и определение молекул, находящихся на поверхности, равно как и понимание особенностей их взаимодействия с поверхностью и друг с другом может оказаться важным фактором для управления свойствами поверхностей, а также создания новых наноструктур для потенциально полезных приложений.

Инфракрасная спектроскопия может предоставить большой объем информации о строении молекул – инфракрасные спектры возникают в результате колебательного (отчасти вращательного) движения молекул, а именно — в результате переходов между колебательными уровнями основного электронного состояния молекул и могут считаться молекулярными «отпечатками пальцев. Тем не менее, несмотря на ценную информацию, которую может предоставить ИК спектроскопия, ее разрешающая способность недостаточна для детектирования отдельных молекул.

Ранее предпринимались неоднократные попытки модификации сканирующего туннельного микроскопа химической чувствительностью за счет его гибридизации с ИК-спектрометром. Однако разработанные ранее методики, включая основанную на сканирующей туннельной микроскопии неэластичную туннельную спектроскопию [inelastic tunnelling spectroscopy (IETS)], обладали целым рядом недостатков и не применялись на практике.

ИК-лазер скомбинирован со сканирующим туннельным микроскопом, полученное устройство позволяет изучать колебательную картину молекул, закрепленных на поверхности золота.

Исследователи из Национальной Лаборатории Лоуренса Беркли и Университета Калифорнии разработали методику, которая позволяет преодолеть известные ранее недостатки аналитических методов, используя сканирующий туннельный микроскоп в качестве чувствительного детектора для регистрации ИК спектра монослоев молекул, нанесенных на электропроводные кристаллы. Хотя новый метод пока еще и не позволяет зарегистрировать вибрационный спектр одной молекулы, он уже достаточно перспективен.

Возглавлявший работу Майкл Кромми (Michael Crommie) полагает, что новую методику удалось разработать благодаря современным достижениям в области, связанной с разработкой новых ИК-лазеров. Он подчеркивает, что для выполнения проведенных измерений необходимо точно переключать рабочую частоту стабильного и яркого ИК-лазера, чего до недавнего времени практически невозможно было достичь.

Исследователи сконструировали стабильный настраиваемый ИК-лазер, частота излучения которого может точно регулироваться в области, характерной для деформационных колебаний связей C–H, и с комбинировали его с низкотемпературным сканирующим туннельным микроскопом с высоким разрешением. Для проверки комбинированной системы в качестве объекта исследования применялись кристаллические вещества, нанесенные на золото.

Кромми поясняет, что эксперимент заключался в простом освещении лазером интересующих исследователей «островков» молекул с последующим определением зависимости положения зонда от частоты лазера. Такой внешне простой подход позволил детектировать ИК-спектры монослоев и бислоев молекул.

Как отмечает Штефан Таутц (Stefan Tautz), специалист по визуализации молекул, результаты работы уже можно считать прорывом в области, добавляя, что если исследователям удастся добиться мономолекулярного разрешения, возможности сканирующей туннельной микроскопии смогут достичь невиданных высот, однако, по словам Кромми, для получения изображений такого качества в первую очередь для новой системы необходимо понизить соотношение сигнал/шум.

Статья опубликована от компании: Химический портал himsite.ru

Ещё анонсы и статьи

13.08.2025 Химический портал himsite.ru

Теплоносители для систем отопления и химия для очистки накипи: надёжная работа и продление ресурса оборудования

Эффективность и долговечность систем отопления напрямую зависят от того, какие рабочие жидкости используются в их контурах и насколько регулярно выполняется обслуживание. Некачественный теплоноситель...

Читать далее »

12.08.2025 Hong Kong Safran Industry Co. Limited.

Кто мы?

HONGKONG SAFRAN INDUSTRY CO. LIMITED. — профессиональная китайская внешнеторговая компания-поставщик взрывчатых веществ для гражданских целей и химического сырья. Основана в 2009-м году. Будучи меж...

Читать далее »

12.08.2025 Hong Kong Safran Industry Co. Limited.

Компания Hong Kong Safran Industry Co. Limited.: мировой лидер в комплексных химических решениях.

Основанная в Гонконге в 2009-м году, компания Hong Kong Safran Industry Co. Limited. стала эталонным игроком на мировом рынке аммиачной селитры и взрывчатых веществ. Это достижение стало возможным...

Читать далее »

11.08.2025 Павлово-Посадский Гофрокомбинат

Павлово-Посадский Гофрокомбинат запускает высокотехнологичную линию плоской высечки Eterna

5 августа 2025 года пресс-служба Павлово-Посадского Гофрокомбината сообщает о внедрении новой высокотехнологичной линии плоской высечки Eterna ECUT 1650 ELITE. Данное оборудование способно удовлетвори...

Читать далее »

05.08.2025 Павлово-Посадский Гофрокомбинат

Павлово-Посадский Гофрокомбинат включен в Реестр утилизаторов!

30 июля 2025 года Павлово-Посадский Гофрокомбинат вступил в Реестр утилизаторов. Это важное событие открывает новые возможности для предприятия: теперь «ПП Гофрокомбинат» может не только выполнять обя...

Читать далее »

Copyright © 2009-2025 HimSite.ru - Портал химической промышленности, оборудование для химии, нефтехимии, полимеров.

Обратная связь